Tektronix承认对高效能量设备的评估，这是深度分析半导体的双重脉冲测试

在本文中引用：_____在当今的快速开发电子技术领域中，功率半导体设备的性能优化很重要。双脉冲（DPT）测试是一种重要的测试方法，并为动力设备的动态操作评估提供了准确的手段。本文对该领域的双脉冲测试，双脉冲测试应用程序和Tektronix Advanced Solutions的双重脉冲测试原理进行了深入分析，并介绍了新的Tektronix专家Gao Yuan Book的相关内容。图1双脉冲测试电路，通过设计针对双脉冲测试的客观参数的功率转换器来测量FET开关损失，理想状态是零功率的损失，但实际上，切换损失是不可避免的。传统的转换器基于上的转换器的效率约为87％至90％。这使得在废物的热量中消散的入口功率的10％至13％，这在SW中造成了大多数损失MOSFET和IGBT等瘙痒设备。联合温度。图2使用MOSFET（例如DUT）进行双脉冲测试的当前流动目标是测量以下切换参数：●在参数中：TD延迟时间（ON），VDS包括时间，最大排水ID，DV/DT，DI/DT，DI/DT，EON ENING，EON ENEM，EON ENergy，Energy，电阻RDS（ON）。 ●DROOTS参数：包括矮延迟TD（OFF），VDS TIME TR，TOFF时间，最大VDSM漏极电压，DV/DT，DI/DT，Eoffer Energy EFF和输出电荷Qoss。 ●反恢复参数：包括反恢复时间TR，逆恢复电流，逆恢复负载，逆恢复能量ER和VDRIVEN OLTAGE FORWARD VSD。双脉冲的典型三个阶段双脉冲测试电路如图1所示。FET和低侧配置允许精确测量功率设备。该测试分为三个重要阶段。 1）建立目标测试电流并调整初始脉冲宽度以提供REMERI红色测试电流通过负载电感器。 2）关闭并测量第一个脉冲。此时，ID到达目的地测试电流，当电源设备关闭时，ID跌至零。测量延迟（TD（OFF），装饰时间（TF），闭合时间（TOFF），电源（EOFF），DV/DT，DI/DT，DI/DT。负载电感器的负载电流流通过自由车轮二极管的负载电流。偏离时间很短，短短以在此脉动中驱动和测量量的载荷，以维持载荷的载荷电流，并在此脉动中驾驶，并驾驶sTage and sTage and stre sTage and stere and sTage and sTage and sTage and sTage and sTage and steement and stre and sTage and sTage and sTage。动力设备。当自由车轮二极管可逆地恢复时，驾驶过程中的当前叠加是由于暂时的过电流引起的。第二脉冲宽度仅足够长，可以保证避免过热的同时稳定测量。图4。双脉冲测试波形。上波形显示应用于门或门控制器的信号。信号低于相应的D雨道（IC）和排水源电压（VDS）。 Tektronix双脉冲测试解决方案在第1阶段和第2阶段和第3阶段之间的过渡中的测量提供了不可或缺的仪器，探针和软件范围，以满足您的双脉冲测试需求。典型的设备设置包括：●信号来源：提供信号是门单元。通常，任何功能生成器（AFG），例如集成到示波器中的AFG31000或AFG系列。 ●CC电源：提供足够的排水和电流电压，包括EA-PSI 10000可编程电源和高压源测量单元Keithley 2657a。 ●多通道数字示波器：用于对VD，VG和ID的获取和测量。例如，Tektronix 5系列B MSO，4系B MSO和6 B MSO系列的表现相同，但规格不同。 ●示波器探针：探针的选择对于有效结果很重要。 Tektronix提供了各种概率ES满足他们多样化的测试需求。 ●双脉冲测试应用程序软件：针对系列4、5和6 B MSO的双脉冲测试软件。 WBG-DPT有助于进行可重复的测量。 Tektronix的Double Pulse测试解决方案提供了出色的受益人。与手动测试方法相比，它们的自动测量功能可以大大提高测量效率和精度。此外，Tektronix提供了双脉冲测试示例的详细说明，例如如何计算能量和缺乏能量，以及计算反向回收能量损失的方程式。作为Tektronix高级行业的专家，其作者Gao Yuan向这本书注入了宝贵的专业内容，这些内容在测试领域有多年的深入积累和硅碳化物设备的特征。这本新书不仅提供了对SIC Power Devices应用的特征，测试和技术的全面和深入分析，而且还提供了第5章对双脉冲测试技术的关键要素的详细说明涵盖了各个方面，例如基本原理，参数配置，施工平台的构建，仪器测量，设备选择等。本书还探讨了电压测量点之间的寄生参数的影响，并提出了评估动态特征测试结果的标准，以及用于选择多种测试场景的双脉冲测试设备的关键点。随着国家硅碳化物行业的激烈发展，该版本的第二次更新无疑将提供动态的科学工程师，研究人员和技术取向，并提供到《时代》。此外，本书的英文版本将于7月与世界各地的读者会面，以进一步扩大他们对国际领域的影响并支持全球流动和硅车的发展二线技术。双脉冲测试是功率半导体设备测试的重要技术。 Tektronix使用高级设备和软件为工程师提供强大的测试支持。 Gao Yuan的新书《 SIC Power Devices：特征，测试，应用技术》将进一步加深对SIC设备测试技术的理解，并将为行业发展提供宝贵的参考。